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掃描電鏡樣品尺寸太大怎么辦？

當掃描電鏡（SEM）樣品尺寸太大，無法直接放入樣品倉或樣品臺時，可以采取以下幾種方法應對，確保安全、成像清晰且設備不受損：

掃描電鏡（SEM）樣品表面太粗糙會明顯影響成像質量。以下是其具體影響及原因：

掃描電鏡（SEM）原理上只能拍攝黑白圖像，不能直接拍攝彩色圖像。

在使用掃描電鏡（SEM）之前，良好的前期準備對確保成像質量、避免樣品損壞和儀器污染至關重要。

掃描電鏡（SEM）能譜分析（EDS 或 EDX）對樣品制備有較高要求，制備不當會直接影響元素分析的準確性、峰位識別、含量判斷甚至導致誤判。

在掃描電鏡（SEM）中，能譜圖（EDS 或 EDX 圖）顯示的是樣品中不同元素對入射電子束響應所產生的特征 X 射線的強度與能量的關系。

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，圖像邊緣出現像差，常見表現包括模糊、拉伸、畸變或亮度不均，主要是由于電子束聚焦性能在邊緣區(qū)域變差導致的。

在掃描電鏡（SEM）觀察過程中，非導體樣品或導電性差的樣品表面容易積累電荷，這會導致圖像發(fā)白、模糊、漂移甚至“閃爍”，嚴重影響成像質量。